Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
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- Nicolas Sommer
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1 Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Urkundeninhaber: NMI Naturwissenschaftliches und Medizinisches Institut an der Universität Tübingen Markwiesenstraße 55, Reutlingen Prüfungen in den Bereichen: Arzneimittel und Wirkstoffe Werkstoffe Wässrige Lösungen Prüfgebiet: Chemische Arzneimittel- und Wirkstoffanalytik Chemische und ausgewählte mechanische Prüfungen Chemische und ausgewählte mechanische Prüfungen von metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen Ausgewählte chemische Prüfungen von Chromatographie (HPLC-ESI-MS) Mikroskopie und Röntgenspektroskopie (SEM/ EDX) Spektrometrie (SNMS, XPS, FTIR) Härteprüfung Elektrochemische Verfahren verwendete Abkürzungen: siehe letzte Seite Seite 1 von 5
2 Innerhalb der mit ** gekennzeichneten Untersuchungsbereiche ist dem Laboratorium, ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DAkkS GmbH bedarf, die Modifizierung sowie Weiter- und Neuentwicklung von Untersuchungsverfahren gestattet. Die aufgeführten Untersuchungsverfahren sind beispielhaft. Das Laboratorium verfügt über eine aktuelle Liste aller Untersuchungsverfahren im flexiblen Akkreditierungsbereich. Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 2 von 5
3 Prüfbereich: Arzneimittel und Wirkstoffe Prüfgebiet: Chemische Arzneimittel- und Wirkstoffanalytik Prüfart: Chromatographie (HPLC-ESI-MS)** MD 050, Ver.06 Quantitative Bestimmung von pharmazeutischen Wirkstoffen, (z.b. Clindamycinhydrochlorid, Clindamycinphosphat, Paclitaxel) aus physiologischen Lösungen (z.b. Ringerlösung, Gallenflüssigkeit) mittels HPLC- ESI-MS Trägermaterialien, Beschichtungen Prüfbereich: Werkstoffe Prüfgebiet: Chemische und ausgewählte mechanische Prüfungen Prüfart: Mikroskopie und Röntgenspektroskopie (SEM/ EDX) MD 017, Ver. 14 SEM/EDX an organischen und anorganischen Festkörperoberflächen oder inneren Grenzflächen Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 3 von 5
4 Spektrometrie (SNMS, XPS, FTIR) MD 019, Ver.08 SNMS an Oberlächen, dünnen Schichten und Bulkmaterial von Festkörpern (Metalle, Halbleiter, Legierungen, Glas und Keramik) MD 024, Ver.14 XPS an Oberlächen von UHVtauglichen Werkstoffen und Beschichtungen (z.b. Metalle, Halbleiter, Legierungen, organische Verbindungen, Glas und Keramik) MD 040, Ver.12 FTIR an infrarotaktiven organischen und anorganischen Festkörperoberflächen oder inneren Grenzflächen Prüfgebiet: Chemische und ausgewählte mechanische Prüfungen von metallischen und nichtmetallischen Wirkstoffen Härteprüfung MD 042, Ver.05 Mikro- und Nanohärteprüfung an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 4 von 5
5 Prüfbereich: wässrige Lösungen Prüfgebiet: Ausgewählte chemische Prüfungen von Elektrochemische Verfahren MD 002, Ver.09 Bestimmung des Gleichgewichtspotentials von MD 003, Ver.12 MD 004, Ver.13 MD 014, Ver.10 MD 015, Ver.15 Zyklische Voltametrie an Chronoamperometrie an Potentiometrische Bestimmung des ph-wertes in Polarographische Analyse von Nickelionen in wässrigen Lösungen verwendete Abkürzungen: DIN EN ISO HPLC ESI-MS MD SEM EDX SNMS XPS UHV FTIR Deutsches Institut für Normung e.v. Europäische Norm International Organization for Standardization Hochleistungsflüssigkeitschromatographie Elektrospray-Ionisations-Massenspektrometrie Methodenbeschreibung, Hausverfahren der KBS Scanning Electron Microscope Energy-Dispersive X-Ray Analysis Sekundärneutralteilchenmassenspektrometrie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Ultrahochvakuum Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 5 von 5
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